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Analisador XRF EDX 3000 PLUS

O EDX 3000 PLUS da Skyray é um analisador XRF de elevado desempenho dedicado à deteção não destrutiva de metais preciosos. Especialmente concebido para analisar o conteúdo de ouro, platina, prata, paládio, cobre, zinco e níquel, garante uma elevada exatidão e uma excelente resolução. Dotado de um detetor SDD com uma janela de berílio de 25 mm² e de uma câmara CMOS HD, permite um posicionamento preciso e uma leitura clara. A interface de controlo único facilita a sua utilização, tornando-o ideal para testes rápidos em joalharia, relojoaria, laboratórios de metais preciosos e controlo de qualidade industrial.



Descrição

EDX 3000 PLUS: análise exacta e não destrutiva de metais preciosos

O EDX 3000 PLUS da Skyray é um analisador de metais preciosos por fluorescência de raios X (XRF) especificamente concebido para satisfazer as necessidades dos profissionais das indústrias de joalharia, fabrico de metais preciosos, recuperação e controlo de qualidade. Graças à sua tecnologia de análise não destrutiva, pode determinar rapidamente a composição do ouro, da platina, da prata e do paládio, bem como de metais secundários como o cobre, o zinco e o níquel, com uma precisão muito elevada.

O instrumento baseia-se num detetor SDD com uma janela de berílio de 25 mm², permitindo uma captura óptima dos raios X emitidos pela amostra. Esta configuração melhora significativamente a exatidão das medições, nomeadamente para elementos como o irídio na platina, respeitando as normas internacionais GB/T 18043-2000.

O EDX 3000 PLUS destaca-se pela sua resolução energética de 139 ± 5 eV, que ultrapassa o desempenho dos detectores Si-PIN tradicionais, oferecendo uma melhor capacidade de discriminação dos picos espectrais e, por conseguinte, uma maior precisão analítica. Incorpora tecnologia de análise digital multi-canal, associada a uma capacidade de contagem de até 80.000 impulsos por segundo. Isto representa uma melhoria de 5 a 10 vezes na velocidade de processamento em comparação com os detectores padrão, duplicando ou mesmo quadruplicando a precisão da medição.

A câmara HD CMOS integrada permite o posicionamento preciso da amostra na plataforma móvel, garantindo a consistência entre testes. A interface de um único botão torna a análise rápida e intuitiva. O instrumento aplica automaticamente parâmetros básicos para a seleção da curva de calibração, tornando-o acessível mesmo a utilizadores não especializados.

O seu design robusto, com dimensões de 550 x 410 x 320 mm e um peso de 45 kg, torna-o uma ferramenta fiável para utilização em laboratório ou em ambiente industrial. Funciona melhor a temperaturas ambiente entre 15 e 30°C. Para garantir a estabilidade da tensão, recomenda-se a utilização de uma fonte de alimentação purificada e estabilizada.

Características

  • Análise não destrutiva para jóias, metais preciosos e ligas
  • Alta resolução para melhor distinção de elementos próximos
  • Interface intuitiva com operação de um botão
  • Câmara CMOS HD para um posicionamento preciso da amostra
  • Plataforma de amostragem móvel para facilidade de utilização
  • Sistema de análise digital multi-canal para maior velocidade e precisão
  • Em conformidade com GB/T 18043-2000

Detalhes técnicos

  • Método de análise: Fluorescência de raios X (XRF)
  • Detetor: SDD com janela de berílio de 25 mm²
  • Resolução energética: 139 ± 5 eV
  • Gama de análise: Elementos de S a U
  • Exatidão a longo prazo: 0,05% (a 96% de concentração)
  • Taxa de contagem: Até 80.000 impulsos/segundo
  • Dimensões: 550 mm x 410 mm x 320 mm
  • Peso: 45 kg
  • Temperatura de funcionamento: 15°C a 30°C
  • Fonte de alimentação: AC 220V ± 5V (recomenda-se uma fonte de alimentação estabilizada)

Acessórios compatíveis

  • Recomenda-se uma fonte de alimentação estabilizada e purificada
  • Padrões de calibração para metais preciosos
  • Software adicional de processamento de dados
  • Suportes externos para armazenamento ou impressão dos resultados

Logística

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